НаукаНаучно-исследовательская деятельностьНаучные проекты → 1.5.08 Исследование фрактальных методов замедления процессов структурной деградации изделий наноэлектроники

1.5.08 Исследование фрактальных методов замедления процессов структурной деградации изделий наноэлектроники

Дата начала проекта: 01.01.2008

Дата окончания проекта: 31.12.2010

Цель:

Развитие теории процессов структурной релаксации и структурной деградации системных дефектов в перспективных планарных средах наноэлектроники при термических и радиационных нагружениях.



Результат:

Полученные результаты:
1. Модели процессов структурной релаксации системных дефектов аморфных и металлических стекол в планарной топологии.
2. Методы и методики по количественному определению фрактальных характеристик системных  дефектов неравновесных разупорядоченных планарных сред в кинетических процессах.
3. Эффект адаптивной структурной устойчивости стеклоподобных аморфных планарных сред, индуцированный радиационным облучением. Технологическая схема получения неравновесных сред с иерархической структурой, которая будет наделяться соответствующим негэнтропийным потенциалом.



Программа: Развитие научного потенциала высшей школы (2009-2010 гг)

Уровень проекта: Федеральные (МинОбрНауки)

Финансирование: Федеральное агентство по образованию